LCR-T4 (13)　メーカー（？）のサイト

　液晶に表示される、「９１ｍａｋｅ．ｔａｏｂａｏ．ｃｏｍ」は、ＵＲＬらしいので、見てみると、出てきました。この製品の説明が。これってメーカーのサイトなんでしょうかね？　中国語なので読めないのですが、機械翻訳してみると、次のようになりました。一部意味不明なところがあるのですが、どうもおかしいですね。言語の問題だけではなくて。元となったものにはいろいろなバージョンがあって、例えば採用されているマイクロコントローラにも違いがあるようなのですが、元となった資料をそのまま中国語に訳しているだけで、ＬＣＲ－Ｔ４がそのうちどれに該当するのか明らかにしていない、手抜きの説明文ですねえ、笑うしかないです。

1。ATmega8、ATmega168またはATmega328マイクロコントローラを使用します。
2.2x16文字のLCDは、結果を表示します。
3。ワンボタン操作、自動電源オフ。
4。シャットダウン電流はわずか20nAに抑え、バッテリ動作のサポートです。
5。結晶のない低コストのバージョン、オートパワーオフ。スリープモードの測定の不存在下でソフトウェアATmega168またはATmega328の1.05kバージョンは、消費電力を低減します。
6。自動検出PNPおよびNPNバイポーラトランジスタ、N、PチャネルMOSFET、JFET、ダイオード、デュアルダイオード、サイリスタSCR。
7。自動検出ピン配置。
8。現在のバイポーラトランジスタの増幅率とエミッタ接合の閾値電圧を測定します。
9。ダーリントントランジスタは、高閾値電圧及び高電流の増幅率によって同定することができます。
10。バイポーラトランジスタ、MOSFET保護ダイオード試験。
11。しきい値電圧とMOSFETのゲート容量を測定しました。
12。これは、2つの抵抗測定と表示記号、数字、および4台までをサポートしています。抵抗記号の両端は、テスタープローブ番号（1-3）に接続されることが示されます。したがって、ポテンショメータも測定することができます。ポテンショメータは、その端部に調整した場合、テスターは、中間ピンの端部の間を区別することができません。
13。抵抗測定分解能は0.1オーム、最も高い測定値50Mオームです。
14。それを検出し、コンデンサを測定することができます。そして、最高の4桁の単位表示。値は25PF（8MHzのクロック、50pFの@ 1MHzのクロック）から100mFにすることができます。1 pFの（@の8MHzのクロック）までの解像度。
15。2UFは、コンデンサの等価直列抵抗（ESR）、容量測定の値よりも大きくすることができるため。0.01オームの解像度と2桁の数値表示。この機能は、少なくとも16KフラッシュATMEGA（ATmega168またはATmega328）が必要です。
16。二つのダイオードは、正しい方向に記号を表示することができます。また、順方向電圧降下が表示されます。
17。LEDテスト用ダイオードの順方向電圧降下は、通常よりもはるかに高いです。ダブルダイオードとして検出デュアルLEDが。
18。逆方向降伏電圧が4.5V未満である場合、ツェナーダイオードは、検出することができます。これは、二つのダイオードのように表示されている、唯一の電圧によって決定されることができます。ダイオードの周りのシンボルプローブは、この場合には、あなたが本当のダイオードのアノードを識別するために700mVでのしきい値電圧に近づけることができる、同じです！
19。****この年次は****を有効にしない、理解を超える3ダイオード型部品検査、障害が追加のメッセージが表示されているダイオードの数を確立するために、場合。ダイオードは、すべての3つのプローブと、少なくとも一つのダイオードに接続されている場合にのみ発生します。このケースでは、2つだけのプローブを接続する必要がありますと、再び1ずつ測定を開始します。
20。単一のダイオードの逆容量値を測定します。あなたはベースとコレクタまたはエミッタを接続する場合、バイポーラトランジスタはまた、測定することができます。
21。一つだけの測定の接続フルブリッジを見つける必要があります。
22。値は以下25PFのコンデンサよりも頻繁に検出されないが、並行して、並列または少なくとも25PFコンデンサにダイオードであってもよいです。このケースでは、一部のシャント容量値を減算する必要があります。
23。あなたは、少なくとも16K ATMEGAフラッシュを持っている場合は2100オーム以下の抵抗は、インダクタを測定します。0からの範囲：20Hよりも01mHが、精度は良くありません。測定結果は、単一の接続要素を示します。
24。試験時間は容量とインダクタンスの測定は長い時間がかかるだろう、約2秒です。
25。ソフトウェアは、電源が自動的にオフにされた回数を測定するように設定することができます。
26。ビルトインセルフテスト機能の選択50Hzのクロック信号の周波数とコール（ATmega168とATmega328）のための精度と待機をチェックします。
27。オプションの内部抵抗と自己テスト機能（ATmega168とATmega328）の機器の出力ポートを測定したゼロオフセット校正。私たちは、ピン1とオフセット電圧の3間のアナログコンパレータの補償に接続された100nFの20uFのコンデンサを必要としています。これは40uFのコンデンサよりも測定誤差を減らすことができます。同一の補正電圧コンデンサ内部基準電圧が内部調整基準測定ADCゲインを発見されています。
試験電流が保持電流、SCRおよびトライアックを超えた場合にそれを検出することができます。しかし、いくつかの半導体SCRより高い電流とトライアックテスターは、トリガ電流を提供することができます。利用可能なテスト電流はわずか6ミリアンペアについてです！すべての機能が、よりATmega168としてのみシングルチップ・プログラム・メモリを持っていることに注意してください。

　それから、面白いと思ったのは、ＬＣＲ－Ｔ４以外にも、類似品がいくつか出ています。